Holland High Tech Holland High Tech
ImSpec

Imaging Spectroscopy for Broadband EUV Source Size Characterization

Lasergeproduceerde tinplasma’s produceren extreem ultraviolette (EUV) straling bij een golflengte van 13,5 nanometer in moderne EUV-lithografie. De industrie ontwikkelt steeds krachtigere en efficiëntere EUV-bronnen. Nieuwe plasma-’recepten’ beïnvloeden de plasma-emissie, die begrepen moet worden.

We stellen voor om een succesvolle ARCNL/UTsamenwerking voort te zetten om nieuwe, compacte beeldspectroscopiemogelijkheden te ontwikkelen en te gebruiken, voortbouwend op onze uitvinding om spectraal opgelost 1D-beeld te creëren over een breed golflengtebereik, evenals 2D-beelden in een smal golflengtegebied met hulp van multilaagspiegels. De nieuwe techniek wordt ingezet om veelbelovende plasmabronnen voor EUV-straling te optimaliseren.

Facts & figures
  • Regeling: PPS-I Strategische Programma's
  • Programma: Semiconductor Manufacturing Equipment | 2024-2027
  • Totaal begrote projectkosten: € 6.489,60
  • Startdatum project: 1 december 2024
  • Einddatum project: 1 december 2029
Projectleiders
Projectconsortium
Meld je aan voor onze nieuwsbrief